POWER-TNCR084SC 紅外線測(cè)溫儀 常見問題
POWER-TNCR084SC 紅外線測(cè)溫儀 說明書
SPOT M160 250-1600C 高溫計(jì) ZT915
fmp40膜厚儀+FTA3.3H涂層測(cè)厚儀
Fischer膜厚儀fmp10/fmp20/fmp30/fmp40
涂層測(cè)厚儀 FMP40+FD10兩用型膜厚儀
DUALSCOPE® FMP40
自動(dòng)識(shí)別基材,將兩種丈量法相結(jié)合(磁感應(yīng)/電渦流,契合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360規(guī)范),此通用型設(shè)備不只能夠?qū)︿撹F上的多種涂層進(jìn)行丈量還能夠?qū)Ψ氰F金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行丈量。
特色
依據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>
自動(dòng)識(shí)別基材(FMP40)
可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)
可樹立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式
數(shù)據(jù)可存儲(chǔ) 4000個(gè)數(shù)據(jù)組
以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地體現(xiàn)丈量成果
能夠輸入進(jìn)程公役 并核算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk
當(dāng)超出公役 時(shí),有聲響和視覺警告信號(hào)
供給的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功用:傳輸和保留丈量值,全部的核算和圖形化評(píng)價(jià),簡(jiǎn)潔生成并打印個(gè)人檢查陳述
典型應(yīng)用領(lǐng)域
汽車工業(yè)
涂料制作與加工
實(shí)驗(yàn)室
檢查組織
航空工業(yè)
技術(shù)參數(shù):
涂層測(cè)厚儀類型 |
DUALSCOPE FMP20 |
DUALSCOPE FMP40 |
非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層 |
能夠 |
能夠 |
鋁上的陽極氧化層 |
能夠 |
能夠 |
鋼或鐵上的儀器、瓷漆或塑料涂層 |
能夠 |
能夠 |
鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層 |
能夠 |
能夠 |
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 |
能夠 |
能夠 |
核算核算 |
能夠 |
能夠 |
打印口/RS232 接口 |
能夠 |
能夠 |
無線傳輸 |
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能夠 |
可更換刺進(jìn)式智慧型探頭 |
能夠 |
能夠 |
集成恒壓探頭 |
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測(cè)量規(guī)模(μm) [mils] |
取決于探頭 |
取決于探頭 |
電源 |
電池 |
交流電或電池 |
重量[g] |
230 |
230 |
標(biāo)準(zhǔn) (高 x 寬 x 深 mm) [高 x 寬 x 深 ] |
160 x 80 x 30 |
160 x 80 x 30 |
涂層測(cè)厚儀FMP40-可配探頭:
FD10:兩用探頭 磁感應(yīng)和渦流兩用
測(cè)量規(guī)模:磁性:0-1300 μm,渦流,0-800 μm
FGA1.3:磁感應(yīng)探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測(cè)量
測(cè)量規(guī)模:0-1500μm
測(cè)量精度:0.25μm(0-50μm)
0.5(50-1000μm)
<2.5(1000-1500μm)
*小可測(cè)直徑:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф14mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材:0.2mm(差錯(cuò)<10)
FGAB1.3:磁感應(yīng)探頭 常規(guī)丈量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性
測(cè)量規(guī)模:0-2000μm
測(cè)量精度:0.5μm(0-100μm)
0.5(100-1000μm)
<3(1000-2000μm)
*小可測(cè)直徑:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф18mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材:0.2mm(差錯(cuò)<10)
FGABI 1.3-150 磁感應(yīng)探頭 長(zhǎng)臂探頭,
*小測(cè)ф9mm孔壁涂鍍層
測(cè)量規(guī)模:0-1000 μm
測(cè)量精度:0.5 μm(0-50 μm)
1(50-1000μm)
*小可測(cè)直徑:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф16mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積:ф2mm(差錯(cuò)<10);ф8mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材:0.2mm(差錯(cuò)<10)
FTA3.3H 渦流探頭
測(cè)量規(guī)模:0-1200 μm
測(cè)量精度:0.25 μm(0-50 μm)
0.5(50-800 μm)
<2(800-1200 μm)
*小可測(cè)直徑:ф2mm(差錯(cuò)<10);當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積:ф2mm(差錯(cuò)<10);當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材:0.09mm(差錯(cuò)<10)
FTA3.3 渦流探頭
測(cè)量規(guī)模:0-1200 μm
測(cè)量精度:0.5 μm(0-100 μm)
0.5(100-800 μm)
<3(800-1200 μm)
*小可測(cè)直徑:ф2mm(差錯(cuò)<10);當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
*小可測(cè)面積:ф2mm(差錯(cuò)<10);當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
*薄可測(cè)基材:0.09mm(差錯(cuò)<10)